ARCOS

頂級的 SPECTRO ARCOS ICP-OES 分析儀將元素分析提升到新的水平
 

•  新雙邊接口 (DSOI) 設計：一併增加了靈敏度並消除了基質污染的兼容性問題 

• 一台儀器同時具有兩台儀器的功能：市場上唯一的 MultiView 感應耦合電漿分析儀器：一台儀器中同時真正的軸向和真正的徑向（單或雙）電漿觀察

• ORCA 光學系統：涵括 130-770 nm 波長範圍內同時光譜收集分析，靈敏度比階梯光柵型光學系統高 5 倍 ‒ 在 UV/VUV 範圍內提供一流的性能

SPECTRO ARCOS 感應耦合電漿發射光譜儀 (ICP-OES) 在工業和學術應用中表現出色，可對金屬、化學品、石化產品和其他材料進行最先進的元素分析。
無需利用潛望鏡方式的 MultiView 設計，讓使用者可以在 90 秒或更短的時間內將徑向視圖儀器“轉換”為軸向視圖設備，反之亦然。

MultiView 現在包括雙面電漿觀察。兩個光學接口的設計同時增加了靈敏度並消除了污染/基質兼容性問題。
偵測器使用先進 CMOS 技術，可消除光溢現象，即使在密集的矩陣線附近也能讀取微量元素的低信號，提供高動態偵測範圍。
SPECTRO ARCOS 的設計確保在長期、可靠的使用壽命內保有極低運作成本。

免吹掃 UV-PLUS 密封氣體淨化技術、專有的空氣冷卻、可選配的智能閥門系統和用於遠程監控的便攜式攝影機。